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  • UM-2超声波测厚仪按照超声波脉冲反射原理来实行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲经过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,经过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
  • UM-3高精超声波测厚仪按照超声波脉冲反射原理来实行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲经过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,经过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
  • 使用双晶探头的超声波脉冲/回波法。测量范围:0.5至508毫米(0.02至20英寸);取决于所用探头、材料、表面情况和温度。单位和显示分辨率:毫米-0.01,0.1;英寸-0.001,0.01。显示模式:厚度值模式;A扫描或波形模式;Z小/Z大值捕获模式;差值/减薄率模式。
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